USD: 78.67 EUR: 91.48 CHF: 84.80 (ЦБ РФ)
(495) 941-03-26
Работаем с 10.00 до 18.00 МСК

Сканирующий электрохимический микроскоп 920D

Цена: По запросу
Наличие: Уточняйте

Сканирующий электрохимический микроскоп (SECM) был представлен в 19891 году. Обнаруживая реакции, происходящие на небольшом электроде (наконечнике) при сканировании в непосредственной близости от поверхности, SECM может быть использован для получения изображений химической реактивности поверхностей и количественных измерений скоростей реакций. В настоящее время многочисленные исследования с помощью SECM были проведены в ряде лабораторий по всему миру, и прибор использовался для широкого спектра применений, включая исследования коррозии, биологических систем (например, ферментов, кожи, листьев), мембран и интерфейсов жидкость/жидкость 2,3.Также сообщалось об  улавливании и электрохимическом обнаружении одиночных молекул с помощью SECM.

Сканирующий электрохимический микроскоп CHI920D состоит из цифрового функционального генератора, бипотенциостата, схемы сбора данных высокого разрешения, трехмерного нанопозиционера и держателя образца и ячейки. Схемы для SECM и держателя образца/ячейки приведены ниже. Трехмерный нанопозиционер имеет пространственное разрешение до нанометров, но он допускает максимальное расстояние перемещения в 50 миллиметров. Диапазон регулирования потенциала бипотенциостата составляет ± 10 В, а диапазон тока - ± 250 мА. Прибор способен измерять ток вплоть до субпикоампер.

В дополнение к изображению SECM, доступны другие режимы работы для использования сканирующего зонда: кривая сканирования зонда, кривая приближения зонда, поверхностный опрос SECM и кондиционирование поверхности. Режим кривой сканирования зонда позволяет зонду двигаться в направлении X, Y или Z, в то время как потенциалы зонда и подложки контролируются и измеряются токи. Зонд может быть остановлен, когда ток достигнет заданного уровня. Это особенно полезно для поиска объекта на поверхности и определения кривых приближения. Режим кривой приближения позволяет зонду приблизиться к поверхности подложки, что также очень полезно для различения поверхностного процесса с помощью ПИД-управления. Размер шага автоматически регулируется, чтобы обеспечить быстрый подход к поверхности, не позволяя зонду касаться поверхности. Кондиционирование поверхности позволяет пользователю редактировать шаблон для поверхностного кондиционирования, управляя наконечником при двух различных потенциалах и длительностях. Для визуализации SECM и кривой сканирования зонда доступны режимы постоянной высоты, постоянного тока, потенциометрический и импедансный.

Технические характеристики Model 920D - для более старых моделей (920C)

 

Нанопозиционер

  • Разрешение X, Y, Z: 1,6 нм с пьезо-позиционером, управление замкнутым контуром, 8 нм позиционер с шаговым двигателем
  • X, Y, Z общее расстояние: 50 мм

Потенциостат/бипотенциостат

  • Амперметр нулевого сопротивления
  • 2 - или 3- или 4-электродная конфигурация
  • Плавающий (изолированный от земли) или заземленный
  • Максимальный потенциал: ± 10 В для обоих каналов
  • Максимальный ток: ± 250 мА непрерывный (сумма двух каналов тока), ± 350 мА пик
  • Напряжение соответствия: ± 13 В
  • Время нарастания потенциостата: < 1 мкс, типичное 0,8 мкс
  • Диапазоны приложенных  потенциалов (В): ±0.01, ±0.05, ±0.1, ±0.65, ±3.276, ±6.553, ±10
  • Разрешение прикладываемых потенциалов : 0,0015% от диапазона потенциала
  • Точность приложенного потенциала: ± 1 мВ, ± 0,01% от шкалы
  • Шум приложенного потенциал:  < 10 мкВ скз
  • Диапазон измеряемого тока: от ±10 пА до ±0,25 А в 12 диапазонах
  • Измеренное разрешение тока: 0,0015% от диапазона тока, минимум 0.3 фА
  • Точность измерения тока: 0,2%, если диапазон тока >=1e-6 A/В, иначе 1%
  • Входной ток смещения: < 20 пА

Гальваностат

  • Диапазон применяемого тока гальваностата: 3 нА - 250 мА
  • Точность приложенного тока: 20 пА ± 0,2%, если  > 3e-7A, иначе ± 1%
  • Разрешение прикладываемого тока: 0,03% от диапазона приложенного тока
  • Диапазон измеряемых потенциалов (В): ± 0,025, ± 0,1, ± 0,25, ± 1, ± 2,5, ± 10
  • Разрешение измеряемых потенциалов : 0,0015% от диапазона потенциала

Электрометр

  • Входной импеданс электрода сравнения: 1x10 12 Ом
  • Полоса пропускания входного электрода: 10 МГц
  • Ток смещения входного электрода сравнения:  <= 10 пА при 25 °C

Генерация сигналов и сбор данных

  • Быстрое обновление сигнала: 10 МГц @ 16 бит
  • Быстрый сбор данных: двухканальный 16-битный АЦП, 1 000 000 Выб/с одновременно
  • Канал записи внешнего сигнала с максимальной частотой дискретизации 1 МГц

Другие функции

  • Автоматическая и ручная компенсация iR
  • Смещение измерения тока: полный диапазон с 16-битным разрешением, точность 0,003%
  • Смещение измерения потенциала: ±10 В с 16-битным разрешением, точность 0,003%
  • Ввод внешнего потенциала
  • Аналоговый выход потенциала и тока
  • Программируемые отсечки фильтра потенциала : 1,5 МГц, 150 кГц, 15 кГц, 1,5 кГц, 150 Гц, 15 Гц, 1,5 Гц, 0,15 Гц
  • Программируемые отсечки фильтра сигнала: 1,5 МГц, 150 кГц, 15 кГц, 1,5 кГц, 150 Гц, 15 Гц, 1,5 Гц, 0,15 Гц
  • Выход управления RDE: 0-10 В (соответствует 0-10000 об / мин), 16 бит, точность 0,003%
  • Линии цифрового ввода/вывода, программируемые с помощью макрокоманды
  • Флэш-память для быстрого обновления программного обеспечения
  • Последовательный порт или USB выбирается для передачи данных
  • Управление ячейкой: продувка, перемешивание, стук
  • Максимальная длина данных: 256K-16384K выбираемая
  • Отображение абсолютного и относительного расстояния в реальном времени
  • Отображение тока зонда и подложки в реальном времени
  • Двухканальные измерения для  CV, LSV, CA, DPV, NPV, SWV, i-t
  • Программа моделирования и подгонки CV, определяемые пользователем механизмы
  • Программа моделирования и подгонки импеданса

Методы зондового сканирования

  • SECM томография (SECM): режимы постоянной высоты, постоянного тока, потенциометрический и импедансный
  • Кривые приближения зонда (PAC)
  • Кривая сканирования зонда (PSC): режимы постоянной высоты, постоянного тока, потенциометрический, импедансный и постоянный импедансный
  • Кондиционирование поверхности  (SPC)
  • Опрос поверхности SECM (SISECM)
  • Управление постоянным током Z зонда

Методы развертки

  • Циклическая вольтамперометрия (CV)
  • Вольтамперометрия линейной развертки
  • Диаграмма Тафеля (TAFEL)

Шаговые и импульсные методики

  • Лестничная вольтамперометрия (SCV)
  • Хроноамперометрия (CA)
  • Хронокоулометрия (CC)
  • Дифференциальная импульсная вольтамперометрия (DPV)
  • Нормальная импульсная вольтамперометрия (NPV)
  • Дифференциальная нормальная импульсная вольтамперометрия (DNPV)
  • Вольтамперометрия прямоугольного сигнала

Методы переменного тока

  • Вольтамперометрия переменного тока (ACV)
  • Вольтамперометрия переменного тока второй гармоники (SHACV)
  • Преобразование Фурье AC вольтамперометрии (FTACV)
  • Импеданс переменного тока (IMP)
  • Импеданс - Потенциал (IMPE)
  • Импеданс - Время (IMPT)

Гальваностатические методы

  • Хронопотенциометрия (CP)
  • Хронопотенциометрия с вариацией тока (CPCR)
  • Мультитоковые шаги (ISTEP)

Другие методы

  • Амперометрическая I-t кривая (i-t)
  • Дифференциальная импульсная амперометрия (DPA)
  • Двойная дифференциальная импульсная амперометрия (DDPA)
  • Тройная импульсная амперометрия (TPA)
  • Интегрированное импульсное амперометрическое обнаружение (IPAD)
  • Объемный электролиз с кулонометрией (BE)
  • Гидродинамическая модуляционная вольтамперометрия (HMV)
  • Функции шага развертки (SSF)
  • Мультипотенциальные шаги (STEP)
  • Измерение электрохимического шума (ECN)
  • Потенциал разомкнутой цепи - время (OCPT)
  • Различные инверсионные вольтамперометрии
  • Потенциометрия

Экспериментальные параметры

  • CV и скорость сканирования LSV: 0.000001 до 10000 В/с, два канала одновременно
  • Приращение потенциала во время сканирования: 0,1 мВ @ 1000 В/с
  • Ширина импульса CA и CC: от 0,0001 до 1000 с
  • CA минимальный интервал выборки: 1 мкс, оба канала
  • CC минимальный интервал выборки: 1 мкс
  • Истинный интегратор для CC
  • Длительность импульса DPV и NPV: от 0,001 до 10 с
  • Частота SWV: от 1 Гц до 100 кГц
  • Интервал выборки i-t: минимум 1 мкс, оба канала
  • Частота ACV: от 0,1 Гц до 10 кГц
  • Частота SHACV: 0,1 Гц до 5 кГц
  • Частота FTACV: 0,1 Гц до 50 Гц, одновременное получение данных ACV 1-й, 2-й, 3-й, 4-й, 5-й и 6-й гармоник.
  • Частота IMP: от 0,00001 Гц до 1 МГц
  • Амплитуда IMP: от 0,00001 В до 0,7 В скз.

2D и 3D графика:

  • Интерактивная визуализация поверхностей SECM
  • Цветовое отображение
  • Сглаживание Лапласа
  • Стереоскопическое 3D анаглифическое изображение
  • Высокая совместимость: Windows 98 и выше, 256 цветов (VGA) и выше, не требуется специальная видеокарта или дисплей
Модификация Описание Цена ...
920D Сканирующий электрохимический микроскоп По запросу Заявка
Опция Описание Цена
Технические характеристики Скачать